[发明专利]具有集成的光束位置传感器的扫描头以及用于离线校准的校准装置有效
| 申请号： | 201680036408.1 | 申请日： | 2016-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN107771112B | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | C·松纳;M·拉伯 | 申请（专利权）人： | 施肯拉有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/03 | 分类号： | B23K26/03;B23K26/04;B23K26/06;B23K26/08 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 唐杰敏;陈斌 |
| 地址： | 德国普*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于激光材料加工的扫描头(2)，该扫描头具有聚焦光学系统(15)以及用于影响激光束位置的光束位置系统(3)，该光束位置系统在激光束(9)的传播方向上放置在聚焦光学系统(15)前面并且包括至少两个可控制的可移动的光学元件，借助该光束位置系统能够调节激光束(9)在加工表面(13)上的入射角(α)并且激光束(9)的作业地点(12)能够二维地在该加工表面(13)上移动。根据本发明，扫描头(2)包括光束位置传感器，该光束位置传感器在激光束(9)的传播方向上放置在光束位置系统(3)后面并且借助该光束位置传感器可获取激光束(9)的至少四个独立的位置参数和/或通过这些位置参数确定的激光束(9)的实际位置(19)以进行光束位置系统(3)的离线校准。此外，本发明涉及相关的校准装置以及校准方法。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 集成 光束 位置 传感器 扫描 以及 用于 离线 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种用于激光材料加工的扫描头(2)，其包括：聚焦光学系统(15)，以及用于影响激光束位置的光束位置系统(3)，所述光束位置系统(3)在激光束(9)的传播方向上放置在所述聚焦光学系统(15)前面，所述光束位置系统(3)包括至少两个可控制的可移动的光学元件，并且借助所述光束位置系统(3)可调节所述激光束(9)在加工表面(13)上的入射角，并且所述激光束(9)的作业地点(12)能够二维地在所述加工表面(13)上移动，其特征在于，所述扫描头(2)包括光束位置传感器(4)，所述光束位置传感器(4)在所述激光束(9)的传播方向上放置在所述光束位置传感器(3)后面，并且借助所述光束位置传感器(4)能获取所述激光束(9)的至少四个独立的位置参数和/或通过所述位置参数确定的所述激光束(9)的实际位置(19)。
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