[发明专利]用于分析信号的方法以及用于执行该方法的装置有效

专利信息
申请号: 201680037016.7 申请日: 2016-05-20
公开(公告)号: CN107787455B 公开(公告)日: 2019-07-19
发明(设计)人: M·亨普尔 申请(专利权)人: 西门子股份公司
主分类号: G01R23/16 分类号: G01R23/16
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;杜波
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于分析信号的方法,其中提供待分析信号的频谱,该频谱是待分析信号乘以预定窗口函数并随后进行特别是离散或快速傅里叶变换的结果;在所述频谱中,在至少一个局部最大值的区域中确定最高频谱线和相邻的第二高频谱线(S2);确定最高频谱线和第二高频谱线的振幅(A1、A2);确定至少一个值,该值取决于最高频谱线(S1)的振幅(A1)和第二高频谱线(S2)的振幅(A2);根据确定出的值,使用为预定窗口函数创建的频率校正特性曲线,来确定用于最高频谱线(S1)的频率的频率校正值,以及通过频率校正值来校正最高频谱线(S1)的频率。本发明还涉及执行所述方法的装置。
搜索关键词: 用于 分析 信号 方法 以及 执行 装置
【主权项】:
1.一种用于分析一个信号的方法,其中‑提供待分析信号的一个频谱,所述频谱是所述待分析信号乘以一个预定窗口函数并随后经历傅立叶变换的结果,‑在所述频谱中、在至少一个局部最大值的区域中确定最高频谱线(S1)和与所述最高频谱线(S1)直接相邻的第二高频谱线(S2),‑确定所述最高频谱线的振幅(A1)和与所述最高频谱线直接相邻的所述第二高频谱线的振幅(A2),‑确定取决于所述最高频谱线(S1)的所述振幅(A1)和所述第二高频谱线(S2)的所述振幅(A2)的至少一个值,‑根据所确定的所述值,使用一个频率校正特性曲线,确定针对所述最高频谱线(S1)的频率的一个频率校正值,以及‑通过所述频率校正值来校正所述最高频谱线(S1)的所述频率,其中所述频率校正特性曲线针对所述预定窗口函数、通过一个过程而被创建,在所述过程中:‑提供两个或更多个参考信号,‑将每个参考信号乘以所述窗口函数,‑将与所述窗口函数相乘后的每个参考信号进行所述傅立叶变换,‑将所确定的所述值与所述参考信号的相关联的频率一起存储为多个值对,以及‑基于所述多个值对,创建一个特性曲线。
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