[发明专利]测量装置和测量方法在审
| 申请号： | 201680037595.5 | 申请日： | 2016-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN107708554A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 野田尚志;永井克幸;木下友见;寺岛宏纪 | 申请（专利权）人： | 日本电气方案创新株式会社 |
| 主分类号： | A61B5/11 | 分类号： | A61B5/11 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 鲁山,孙志湧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种测量装置，所述测量装置包括第一获取单元，所述第一获取单元获取指示每个二维位置的深度的深度信息；以及测量单元，所述测量单元通过使用所述深度信息来测量测试对象的步行状态。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种测量装置，所述测量装置包括：第一获取单元，所述第一获取单元获取指示每个二维位置的深度的深度信息；以及测量单元，所述测量单元通过使用所述深度信息来测量测试对象的步行状态。
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