[发明专利]用于确定半导体电路的故障的导轨组件、设备和方法有效
| 申请号： | 201680040958.0 | 申请日： | 2016-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN107835946B | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | F·迪获;L·藤;M·奥斯特 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 侯鸣慧 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定半导体电路故障的导轨(117)组件(100)，其中，所述导轨(117)优选地布置在半导体电路的层上，其特征在于，所述组件(100)包括多个区段(112,113,114,115,116)，其中，所述区段(112,113,114,115,116)布置为串联，其中，每个区段(112,113,114,115,116)具有一定数量的导轨(117)其中，所述导轨(117)的数量在各个区段(112,113,114,115,116)中是不同的，其中，每个区段(112,113,114,115,116)具有起始区域和末端区域，其中，可检测对应区段(112,113,114,115,116)的起始区域和末端区域之间的电压差值，并且在故障情况下各个所述区段(112,113,114,115,116)的电压差值是不同的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 半导体 电路 故障 导轨 组件 设备 方法 | ||
【主权项】：
用于确定半导体电路的故障的导轨(117)组件(100)，其中，所述导轨(117)优选地布置在所述半导体电路的层上，其特征在于，●所述组件(100)具有多个区段(112,113,114,115,116)，其中，所述区段(112,113,114,115,116)串联地布置，其中，●每个区段(112,113,114,115,116)具有一定数量的导轨(117)，其中，●所述导轨(117)的数量在各个区段(112,113,114,115,116)中是不同的，其中，●每个区段(112,113,114,115,116)具有起始区域和末端区域，其中，能检测对应的所述区段(112,113,114,115,116)的所述起始区域和所述末端区域之间的电压差值，并且在故障情况下各个所述区段(112,113,114,115,116)的电压差值是不同的。
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