[发明专利]用于对测量变量进行测量的器件有效

专利信息
申请号: 201680042609.2 申请日: 2016-07-29
公开(公告)号: CN108027254B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: H·安克尔 申请(专利权)人: 大陆-特韦斯股份有限公司
主分类号: G01D5/243 分类号: G01D5/243
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 谈晨雯
地址: 德国法*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于测量被测变量的装置,其中,第一电感(LP,L1)具有添加至其以形成并联谐振电路(P)的电容(CP)并且由微控制器(MK)来激发。耦合至所述第一电感(LP,L1)的测量电感(LS1,LS2,LS3,L2)由所述微控制器(MK)来测量。因此,可以推断出被测变量,在所述微控制器(MK)之外仅需要很少的部件。
搜索关键词: 用于 测量 变量 进行 器件
【主权项】:
1.一种用于测量被测变量的装置,所述装置具有:-第一电感(LP,L1),-测量电感(LS1,LS2,LS3,L2),所述测量电感被设置用于检测所述被测变量并且耦合至所述第一电感(LP,L1),-电容(CP),所述电容与所述第一电感(LP,L1)互连以形成并联谐振电路(P),以及-电子控制单元(MK),-其中,所述电子控制单元(MK)直接连接至所述并联谐振电路(P)并且被配置用于以从所述电子控制单元的时钟推导出的激发频率将所述并联谐振电路(P)激发至振荡,并且-其中,所述电子控制单元(MK)直接连接至所述测量电感(LS1,LS2,LS3,L2)并且被配置用于使用所述测量电感(LS1,LS2,LS3,L2)来测量表明所述被测变量的值。
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