[发明专利]处理衬底的装置与系统及蚀刻衬底的方法有效
申请号: | 201680046221.X | 申请日: | 2016-07-15 |
公开(公告)号: | CN107924838B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 梁树荣;科斯特尔·拜洛;葛兰·F·R·吉尔克里斯特;维克拉姆·辛;克里斯多夫·坎贝尔;理查德·赫尔特;艾立克斯恩德·刚特司;皮耶罗·斯佛拉佐;陈宗良 | 申请(专利权)人: | 瓦里安半导体设备公司 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L21/67;H01L21/3213;H01L21/02 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨文娟;臧建明 |
地址: | 美国麻萨诸塞州格洛斯特*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种处理衬底的装置、处理衬底的系统以及蚀刻衬底的方法。装置可包含:具有安置在处理腔室中的反应气体出口的反应气体源,反应气体出口将第一反应气体引导到衬底;耦合到处理腔室且包含提取板的等离子体腔室,提取板具有沿着第一方向延伸的提取孔隙、安置在处理腔室内以及可在面向反应气体源的第一位置与面向提取孔隙的第二位置之间沿着垂直于第一方向的第二方向移动;以及安置于反应气体出口与提取孔隙之间的气流限制器,气流限制器界定至少等离子体腔室与衬底平台之间的差动泵浦通道。本发明的处理衬底的装置提供较高产出率工艺的能力。 | ||
搜索关键词: | 处理 衬底 装置 系统 蚀刻 方法 | ||
【主权项】:
一种处理衬底的装置,其包括:反应气体源,其具有安置在处理腔室中的反应气体出口,所述反应气体出口将第一反应气体引导到所述衬底;等离子体腔室,其包含具有沿着第一方向延伸的提取孔隙的提取板;以及衬底平台,其经配置以固持所述衬底,安置在所述处理腔室内以及可在面向所述反应气体源的第一位置与面向所述提取孔隙的第二位置之间沿着垂直于所述第一方向的第二方向移动;以及气流限制器,其安置于所述反应气体出口与所述提取孔隙之间,所述气流限制器界定至少所述等离子体腔室与所述衬底平台之间的差动泵浦通道。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瓦里安半导体设备公司,未经瓦里安半导体设备公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680046221.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造