[发明专利]用于液体中纳米颗粒的显微观察的专用试管组件和方法有效
| 申请号： | 201680050804.X | 申请日： | 2016-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108291867B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 贾恩·J·塔塔科维兹;里克·库珀 | 申请（专利权）人： | 堀场仪器株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 柳春雷 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种具有以下特征的专用试管组件，该特征产生较小的且受限制的容积以使液体的块运动最小化并且使光的反向散射最小化。该专用试管组件能够在其放置在合适的光学装置中时记录液体中纳米颗粒的布朗运动，其中，该光学装置包括光片和光学显微镜，该光学显微镜附接到与光片平面垂直地定向的摄像机。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 液体 纳米 颗粒 显微 观察 专用 试管 组件 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于观察颗粒的系统(10)，所述系统包括：光源(15)，其用于产生指向试管(25)的电磁能量(20)；传感器(30)，其用于检测所述试管内的电磁能量；并且所述试管包括：界定容积(45)的外壁(35)和底板(40)，其中，所述外壁的至少一部分对于所述电磁能量是可穿透的(50)，并且其中，所述容积适合于容纳悬浮液体和所述颗粒；观察室(55)，其包括：从所述外壁延伸的上观察室壁(60)和从所述外壁延伸的下观察室壁(65)，其中，所述上观察室壁和所述下观察室壁与所述底板大致平行；反射壁(70)，其与所述上观察室壁和所述下观察室壁相邻；反向散射室(75)，其与所述观察室(80)分开并且流体连通，其中，所述反射壁适合于将所述电磁能量反射(85)进入所述反向散射室。
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