[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201680050816.2 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN108027380B | 公开(公告)日: | 2020-10-09 |
发明(设计)人: | 上路央 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/04 | 分类号: | G01N35/04 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蕴;金成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 自动分析装置向反应容器中的试样与试剂的混合液照射来自光源的光,基于得到的光的信息进行试样的分析。一次性的反应容器在分析后回收至废弃部,但是在反应容器集中储存于废弃部的一部分的情况下,存在内藏物溢出等的问题。另外,在通过使废弃部本身振动而使反应容器的高度均等的情况下,振动产生的干扰影响测量结果,存在分析的可靠性降低的问题。具备废弃测量结束后的反应容器的反应容器废弃部、将该反应容器从上述反应容器保持部向上述反应容器废弃部移送且废弃至该反应容器废弃部的反应容器移送机构、以及控制部,上述控制部以避免上述反应容器废弃部的上述反应容器的废弃在预定的位置连续进行的方式控制上述反应容器移送机构的动作。由此,提供能够维持分析的可靠性较高,并使使用后的反应容器的储存均等的自动分析装置。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:试样分注机构,其向反应容器分注试样;试剂分注机构,其向反应容器分注试剂;测量部,其由保持上述反应容器的反应容器保持部、向所保持的反应容器中容纳的试样与试剂的混合液照射光的光源、以及检测所照射的光的检测部构成;反应容器废弃部,其供测量结束后的反应容器废弃;反应容器移送机构,其将该反应容器从上述反应容器保持部向上述反应容器废弃部移送并向该反应容器废弃部废弃;以及控制部,其控制上述反应容器移送机构的动作,上述控制部以避免上述反应容器废弃部中的上述反应容器的废弃在预定的位置连续进行的方式控制上述反应容器移送机构的动作。
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