[发明专利]沟槽电容器和用于制造沟槽电容器的方法有效

专利信息
申请号: 201680050977.1 申请日: 2016-07-15
公开(公告)号: CN107924954B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: S.施魏格;S.班茨哈夫 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: H01L29/94 分类号: H01L29/94;H01L49/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 臧永杰;杜荔南
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于制造沟槽电容器(2)的方法,所述方法具有如下步骤:提供衬底(200),所述衬底具有正面(201)和背面(202);在所述衬底(200)的正面(201)上产生具有沟槽(210)的沟槽结构;在所述衬底(200)的背面(202)上施加结构(240);在所述衬底(200)的正面(201)上并且在所述衬底(200)的沟槽(210)中沉积绝缘介电层(220);将第一电极(230)施加到沉积在所述衬底(200)的正面(201)上并且沉积在沟槽结构(210)中的绝缘介电层(220)上;将第二电极(250)施加到所述衬底(200)的配备有所述结构(240)的背面(202)上,其中所述结构(240)具有缺口(245),使得所述第二电极(250)在所述缺口(245)的区域内接触所述衬底(200)的背面(202),以及半导体‑沟槽‑电容器(2)。
搜索关键词: 沟槽 电容器 用于 制造 方法
【主权项】:
一种用于制造沟槽电容器(2)的方法,所述方法具有如下步骤:提供(120)衬底(200),所述衬底具有正面(201)和背面(202);在所述衬底(200)的所述正面(201)上产生具有沟槽(210)的沟槽结构;在所述衬底(200)的所述正面(201)上并且在所述衬底(200)的所述沟槽(210)中沉积(140)绝缘介电层(220);在所述衬底(200)的所述背面(202)上施加(150、160)结构(240);将第一电极(230)施加(170)到沉积在所述衬底(200)的所述正面(201)上并且沉积在沟槽结构(210)中的绝缘介电层(220)上;将第二电极(250)施加到所述衬底(200)的配备有所述结构(240)的所述背面(202)上,其中所述结构(240)具有缺口(245),使得所述第二电极(250)在所述缺口(245)的区域内接触所述衬底(200)的所述背面(202)。
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