[发明专利]用于检测物体的优选结构化表面的图像的设备和方法有效

专利信息
申请号: 201680052512.X 申请日: 2016-05-12
公开(公告)号: CN108027232B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: H·维斯特;W·施密特;R·瓦格纳 申请(专利权)人: INB视觉股份公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 顾嘉运;陈斌
地址: 德国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的目标是一种物体的快速和非常精确的重构。这通过一种用于检测物体(6)的优选结构化表面的图像的设备和方法,包括用于照明所述物体(6)的至少一个图案投影单元以及用于捕捉所投影的图案的图像的至少一个成像单元(7)。所接收的一个或多个图像的时间和/或空间分析被执行以便重构该表面。所述至少一个图案投影单元被设计成使用在光栅上的光衍射生成图案。而且,所述用于检测图像的方法被表征为通过使用所捕捉图像或图像序列的时间和/或空间分析,借助于算法可以确定对应的像素,所述对应的像素连同成像功能一起允许表面点的三角测量。
搜索关键词: 用于 检测 物体 优选 结构 表面 图像 设备 方法
【主权项】:
1.一种用于通过用于照明物体(6)的至少一个图案投影单元以及用于捕捉被投影的图案的图像的至少一个成像单元(7)来检测物体(6)的优选结构化表面的图像的设备,其中执行对所捕捉的图像或图像序列的时间和/或空间分析以便重构所述表面,其特征在于,所述至少一个图案投影单元被设计成使用在光栅上的光衍射生成图案。
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