[发明专利]用于分析样品中杂质含量的加热室、加热炉、分析装置及方法有效
| 申请号： | 201680052720.X | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN108351171B | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 约阿希姆·梅斯;拉尔夫·加特纳;西蒙·赫因特纳 | 申请（专利权）人： | 申克碳化技术股份有限公司 |
| 主分类号： | F27B17/02 | 分类号： | F27B17/02;F27D5/00;F27D11/04;F27D99/00;G01N21/31;G01N21/74;H05B3/06 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 宋融冰 |
| 地址： | 德国霍伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于加热炉的加热室(1)，利用该加热室可以对来自样品的杂质进行电热蒸发，杂质进行光谱分析。加热室具有壁(3)，样品接收区域(5)，喷嘴区域(7)和两个电连接区域(9、11)。加热室(1)被特别构造为使得电流以这样的方式流过壁(3)：使得由电流产生的制热量在喷嘴区域(7)中比在样品接收区域(5)中高。例如，电连接区域(9、11)可以布置成在径向方向上比壁(3)的围绕喷嘴区域(7)的一部分离纵向轴线(8)更远，并且加热室(1)可以例如通过局部的收缩部分(13)被构造成使得两个电连接区域(9、11)之间的电流主要被径向向内地导向壁(3)的围绕喷嘴区域(7)的那部分。由此可获得的在加热室(1)中有利的热量分布可以对分析样品杂质产生积极影响。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 样品 杂质 含量 加热 加热炉 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于加热炉(104)的加热室(1)，包括：导电壁(3)，样品接收区域(5)，喷嘴区域(7)，第一电连接区域(9)，以及第二电连接区域(11)，其中所述样品接收区域(5)和所述喷嘴区域(7)均被壁(3)围绕，其中所述样品接收区域(5)和所述喷嘴区域(7)沿着中心纵向轴线(8)相继地布置并且被构造成彼此流体连通，并且所述样品接收区域(5)具有比所述喷嘴区域(7)更大的横截面面积，其中所述第一电连接区域(9)和第二电连接区域(11)相对于所述加热室(1)的所述纵向轴线(8)被布置成与所述加热室(1)的相对端相邻并且电连接至所述壁(3)，其中所述加热室(1)被构造成使得通过向所述第一电连接区域(9)和第二电连接区域(11)施加电压而产生的电流以这样的方式流过所述壁(3)：在所述喷嘴区域(7)产生的制热量等于或高于在所述样品接收区域(5)中的制热量。
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