[发明专利]相位检测自动聚焦算法有效

专利信息
申请号: 201680054975.X 申请日: 2016-08-24
公开(公告)号: CN108141527B 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: M·加洛罗·格卢斯金;R·M·维拉尔德;J·李 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H04N5/232 分类号: H04N5/232;H01L27/146;H04N5/369;H04N9/04
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 某些方面涉及用于除相位检测像素以外还使用成像像素(即,非相位检测像素)来计算自动聚焦信息的系统和技术。成像像素值可用于在相位检测像素位置处内插一值。所述内插值和从相位差检测像素接收的值可用于获得虚拟相位检测像素值。所述内插值、从相位差检测像素接收的值和所述虚拟相位检测像素值可用于获得相位差检测信号,其指示图像焦点的移位方向(散焦方向)和移位量(散焦量)。
搜索关键词: 相位 检测 自动 聚焦 算法
【主权项】:
一种成像设备,其包括:多个二极管,其各自经配置以捕捉以下中的一者表示目标场景的图像信息,所述图像信息接收自所述多个二极管的第一子集,或相位检测信息,所述相位检测信息接收自所述多个二极管的第二子集;以及处理器,其配置有指令以针对所述多个二极管的所述第二子集中的每个二极管存取接收自所述二极管的所述相位检测信息,根据所述图像信息确定对应于所述二极管的位置的中心值,及根据所述中心值和所述经存取的相位检测信息确定对应于所述位置的虚拟相位检测值,产生以下中的至少两者基于来自所述多个二极管的所述第二子集中的至少一些的所述相位检测信息产生相位检测图像,基于所述多个二极管的所述第二子集中的每一者的所述中心值产生中心图像,以及基于所述多个二极管的所述第二子集中的所述至少一些的所述虚拟相位检测值产生虚拟相位检测图像,计算两个所述所产生图像之间的相位差,以及基于所述相位差确定自动聚焦调整。
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