[发明专利]光学测定器有效
申请号: | 201680055549.8 | 申请日: | 2016-08-17 |
公开(公告)号: | CN108139324B | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 谷口真司;山根亨介;佐畠健一;后藤直树 | 申请(专利权)人: | 优志旺电机株式会社 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59;G01N21/01 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 课题在于提供能够实现小型化且容易携带、并且能够抑制检测用光以外的光向受光部入射、进而能够获得高精度的测定结果的光学测定器。光学测定器具有:第1导光路形成体,在内部形成有由以直线状延伸的贯通孔构成的第1导光路,该第1导光路使来自光源的测定用光向测定试样所配置的测定部入射;以及第2导光路形成体,在内部形成有以由直线状延伸的贯通孔构成的第2导光路,该第2导光路将从所述测定部射出的检测用光向受光部导光,所述光学测定器的特征在于,所述第2导光路形成体由具有光吸收性的材料形成。 | ||
搜索关键词: | 光学 测定 | ||
【主权项】:
一种光学测定器,具有:第1导光路形成体,在内部形成有由以直线状延伸的贯通孔构成的第1导光路,该第1导光路使来自光源的测定用光向测定试样所配置的测定部入射;以及第2导光路形成体,在内部形成有由以直线状延伸的贯通孔构成的第2导光路,该第2导光路将从所述测定部射出的检测用光向受光部导光,所述光学测定器的特征在于,所述第2导光路形成体由具有光吸收性的材料形成。
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