[发明专利]有机EL元件的制造方法在审
| 申请号： | 201680056254.2 | 申请日： | 2016-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN108141936A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 下河原匡哉;森岛进一;赤对真人;岸川英司 | 申请（专利权）人： | 住友化学株式会社 |
| 主分类号： | H05B33/10 | 分类号： | H05B33/10;H01L51/50;H05B33/02;H05B33/04;H05B33/12;H05B33/28 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹阳 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种有机EL元件(1)的制造方法，该制造方法包括：在基材(3)上形成第一电极层(5)、有机功能层(7)及第二电极层(9)的工序；在形成第二电极层(9)后，检测缺陷部位的工序；在检测出缺陷部位的情况下，从第二电极层(9)侧照射激光(L)，除去缺陷部位的第二电极层(9)的工序；以及在除去缺陷部位的第二电极层(9)后，形成密封层(11)的工序。 | ||
| 搜索关键词： | 第二电极 缺陷部位 有机EL元件 制造 有机功能层 第一电极 密封层 检测 基材 照射 激光 | ||
【主权项】：
一种有机EL元件的制造方法，是依次配置有基材、具备具有网络结构的导体的第一电极层、有机功能层、第二电极层、和包含不透明基材的密封层的有机EL元件的制造方法，所述制造方法包括：在所述基材上形成所述第一电极层、所述有机功能层及所述第二电极层的工序；在形成所述第二电极层后，检测由所述第一电极层与所述第二电极层的短路造成的缺陷部位的工序；在检测出所述缺陷部位的情况下，从所述第二电极层侧照射激光，除去所述缺陷部位的所述第二电极层的工序；以及在除去所述缺陷部位的所述第二电极层后，形成所述密封层的工序。
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