[发明专利]光学测定装置有效

专利信息
申请号: 201680057773.0 申请日: 2016-10-05
公开(公告)号: CN108139331B 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 本多直行;定森健悟;须须木大地;河野景吾;森田元喜 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社;积水医疗株式会社
主分类号: G01N21/78 分类号: G01N21/78;G01N33/543
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光学测定装置(1),具备:测定部(光学头部(2)及控制部(3)),对免疫层析试验片(K)的检测部(16)照射测定光,并测定通过照射测定光而从检测部(16)获得的光;以及判断部(4),根据在测定部所获得的测定值与预先设定的阈值的比较所进行的判定,进行关于免疫层析试验片(K)的判断;测定部,进行多次从检测部(16)获得的光的测定;判断部(4),在判定第n次的测定的测定值为阈值以上、且判定第n+1次的测定的测定值为阈值以上时,进行关于免疫层析试验片(K)的判断。
搜索关键词: 光学 测定 装置
【主权项】:
一种光学测定装置,其特征在于,具备:测定部,对免疫层析试验片的检测部照射测定光,并测定通过照射所述测定光而从所述检测部获得的光;以及判断部,根据在所述测定部获得的测定值与预先设定的阈值的比较所进行的判定,进行关于所述免疫层析试验片的判断,所述测定部,进行多次从所述检测部获得的光的测定,所述判断部,在判定为第n次的测定的测定值为所述阈值以上、且判定为第n+1次的测定的测定值为所述阈值以上时,进行关于所述免疫层析试验片的判断。
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