[发明专利]用于表面反射系数的光学测量的装置和系统在审

专利信息
申请号: 201680059109.X 申请日: 2016-07-13
公开(公告)号: CN108449967A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: N·马丁内斯·桑斯;C·阿尔卡尼斯·加西亚;D·伊斯基耶多·努涅斯;C·埃拉斯·维拉;I·萨利纳斯·阿里斯;C·佩拉约·吉尔;R·阿隆索·埃斯特万;V·萨尔萨·埃斯科瓦尔 申请(专利权)人: 阿文戈亚太阳能新技术有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/47;G01M11/00;G01B11/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 林伟峰
地址: 西班牙*** 国省代码: 西班牙;ES
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摘要: 发明涉及一种用于表面(1)的反射系数的光学测量的新颖装置,其包括:一个或多个光通道,每个通道包括用于在一个或多个波长处发射光束的多个LED(2);第一光电探测器(4),用于在光通道中测量LED的直接光束;一光阑(5),位于光学光通道的出口处,以限制光束的出口的开口;透镜(6),设置为接收在表面(1)上反射的光束并聚焦该光束;以及第二光电探测器(8),用于测量由待测量的表面(1)反射的光束的信号。本发明中的装置能够最小化测量中出现的漫射光的总量,而不在面对不同曲率和不同反射镜厚度时损失高的固有测量公差,也不必对装置做任何额外的调整。
搜索关键词: 光通道 测量 光电探测器 光学测量 反射 曲率 透镜 表面反射系数 测量公差 发射光束 反射系数 直接光束 反射镜 漫射光 最小化 波长 光阑 开口 聚焦 出口
【主权项】:
1.一种用于表面(1)反射系数的光学测量的装置,其特征在于,包括:‑一个或多个光通道,每个通道包括用于在一个或多个波长处发射光束的多个LED(2);‑第一光电探测器(4),用于在光通道中测量LED的直射光束;‑光阑(5),位于光学光通道的出口处,用于限制光束的出口的孔径;‑透镜(6),设置为接收在表面(1)反射的光束并且聚焦所述光束;‑第二光电探测器(8),用于测量由待测量的表面(1)所反射的光束信号,所述光电探测器配置有矩形有效检测区域,其中所述矩形区域的短边设置为垂直于待测量的表面(1)的入射平面,并且其中长边设置为平行于所述平面。
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