[发明专利]超声波诊断装置以及衰减特性测量方法有效
| 申请号： | 201680060675.2 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN108135579B | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 吉川秀树;大坂卓司 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | A61B8/14 | 分类号： | A61B8/14 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 许海兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供能够抑制超声波的扩散衰减对接收信号造成的影响而高精度地测量吸收衰减的超声波诊断装置。从探头向对象物发送第1超声束及第2超声束。分别得到关于对象物的至少预定测量点50的基于第1超声束及第2超声束的接收信号。此时，将第1超声束和第2超声束设定成频率以及焦深分别不同。衰减特性计算部使用关于预定测量点50得到的基于第1超声束的接收信号和基于第2超声束的接收信号，求出对象物的衰减特性。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波 诊断 装置 以及 衰减 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
一种超声波诊断装置，其特征在于，具有：探头；发送部，从所述探头对拍摄范围内的对象物发送第1超声束及第2超声束；接收部，从接收到来自所述对象物的超声波的所述探头的输出中，关于所述对象物的预定测量点，分别得到基于所述第1超声束及第2超声束的接收信号；以及衰减特性计算部，计算所述对象物的组织的衰减特性，关于所述第1超声束和所述第2超声束，频率以及焦深分别不同，所述衰减特性计算部使用关于所述预定测量点的基于所述第1超声束的接收信号和基于所述第2超声束的接收信号，求出所述对象物的衰减特性。
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