[发明专利]采样保持电路中电荷注入噪声的降低有效
申请号: | 201680061898.0 | 申请日: | 2016-10-14 |
公开(公告)号: | CN108352181B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 诺姆·埃谢尔;戈兰·蔡特尼;滋维卡·卢普 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | G11C27/02 | 分类号: | G11C27/02 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 乔焱;曹正建 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: |
一种采样保持电路包括:第一晶体管;第二晶体管,其设置在第一晶体管的栅电极和漏电极之间;采样电容器,该采样电容器的电极连接至第一晶体管的栅电极;以及第一电流源,其连接至第一晶体管的漏电极,其中,第二晶体管的栅电极接收栅控信号。栅控信号的最小电压为V |
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搜索关键词: | 采样 保持 电路 电荷 注入 噪声 降低 | ||
【主权项】:
1.一种采样保持电路,所述采样保持电路包括:第一晶体管;第二晶体管,所述第二晶体管设置在所述第一晶体管的栅极和漏极之间;采样电容器,所述采样电容器的电极连接至所述第一晶体管的所述栅极;以及第一电流源,所述第一电流源连接至所述第一晶体管的所述漏极,其中,所述第二晶体管的栅极被构造成接收栅控信号。
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