[发明专利]精密浆料中大杂质颗粒的全息检测和表征有效
| 申请号： | 201680062172.9 | 申请日： | 2016-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN108351288B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | D·B·鲁弗纳;D·G·戈里尔;L·菲利普斯 | 申请（专利权）人： | 纽约大学 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N15/10;G03H1/08;G03H1/26 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 魏小薇 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过使用全息视频显微镜检查来检测样本内的杂质。样本流动通过显微镜并生成全息图像。分析全息图像，以识别与样本中的大杂质相关联的区域。确定样本的颗粒对全息图像的贡献并表征杂质。 | ||
| 搜索关键词： | 精密 浆料 杂质 颗粒 全息 检测 表征 | ||
【主权项】：
1.一种表征样本中的杂质的方法，包括：使所述样本流动通过全息显微镜的观察体积；在第一时间基于所述观察体积内所述样本的全息视频显微镜检查生成第一全息图像；对于与感兴趣的颗粒对应的一个或多个感兴趣的区域分析第一全息图像；由于由光与所述样本的相互作用产生的漫射波的贡献而归一化所述感兴趣的区域；将经归一化的所述感兴趣的区域拟合到光散射理论；以及表征所述感兴趣的颗粒的一个或多个特性。
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