[发明专利]一种监测颗粒介质运动特征的双轴测试装置在审
| 申请号： | 201680064623.2 | 申请日： | 2016-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN108351286A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 袁泉;王幼行 | 申请（专利权）人： | 香港科技大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 顾红霞;张芸 |
| 地址： | 中国香港*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 双轴测试室包括：上盖；样品室；至少一个观测窗，其附接于所述样品室；两个膜架，其附接有柔性膜且附接在所述样品室的相反两侧；两个侧室，每个侧室作为容纳液体的储存室，连接至所述样品室，并且围绕所述两个膜架；以及底座。 | ||
| 搜索关键词： | 样品室 附接 侧室 膜架 双轴 测试装置 颗粒介质 相反两侧 运动特征 测试室 储存室 观测窗 柔性膜 底座 上盖 容纳 监测 | ||
【主权项】：
1.一种双轴测试室，包括：上盖；样品室；至少一个观测窗，其附接于所述样品室；两个膜架，其附接有柔性膜且连接到所述样品室的相反两侧；两个侧室，每个侧室作为容纳液体的储存室，连接至所述样品室，并且围绕所述两个膜架；以及底座。
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