[发明专利]用于检测辐射的装置以及提供用于检测辐射的装置的方法有效
| 申请号： | 201680064870.2 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN108351427B | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | Z·莱迪沃耶维克;M·阿斯特莱;P·安德鲁 | 申请（专利权）人： | 诺基亚技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 杨晓光 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种装置和方法，该装置包括：多个闪烁体材料层，其被配置为响应于入射的辐射而产生光子；以及多个间隔材料层，其中，闪烁体材料和间隔材料采用交替的层来布置，以使得在闪烁体材料层与间隔材料层之间提供多个界面；其中，闪烁体材料具有与间隔材料不同的折射率，并且，所述多个层中的层的厚度被布置为使得能够实现由闪烁体材料发射的光子和由界面反射的光子的相长干涉。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 辐射 装置 以及 提供 方法 | ||
【主权项】：
1.一种装置，包括：多个闪烁体材料层，其被配置为响应于入射的X射线辐射而产生光子；以及多个间隔材料层，其中，闪烁体材料和间隔材料采用交替的层来布置，以使得在所述闪烁体材料层与所述间隔材料层之间提供多个界面；其中，所述闪烁体材料具有与所述间隔材料不同的折射率，并且，所述多个层中的层的厚度被布置为使得能够实现由所述闪烁体材料发射的光子和由所述界面反射的光子的相长干涉。
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