[发明专利]用于确定样本介质的波长相关折射率的光显微镜和方法有效
| 申请号： | 201680064947.6 | 申请日： | 2016-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN108291870B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 安妮特·贝格特;赫尔穆特·利珀特 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G02B21/00;G02B21/24;G02B21/36;G01N21/27 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 鲁山;孙志湧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过使用根据本发明的方法，确定用光显微镜(100)检验的样本介质的波长相关折射率。使用所述光显微镜对具有未知折射率的样本介质进行样本测量。将照明光(22)照射到所述样本介质并且测量来自所述样本介质的检测光。借助所述样本测量来测量照明光和/或检测光的样本测量焦点位置。使用其中基于介质的折射率来表达照明光和/或检测光的焦点位置(25)的数学模型，从所述样本测量焦点位置导出所述样本介质的所述折射率。此外，描述了一种用于执行所述方法的光显微镜。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 样本 介质 波长 相关 折射率 显微镜 方法 | ||
【主权项】：
1.一种确定用光显微镜检验的样本介质(12)的波长相关折射率(n1)的方法，所述方法包括：利用所述光显微镜对具有未知折射率(n1)的所述样本介质(12)执行样本测量，其中，将照明光(22)照射到所述样本介质(12)并且测量来自所述样本介质(12)的检测光；借助于所述样本测量来测量所述照明光和/或检测光的样本测量焦点位置(25)；使用其中与介质的折射率(n1)相关地界定照明光(22)和/或检测光的焦点位置(Zmax、Xmax)的数学模型，以从所述样本测量焦点位置(25)导出所述样本介质(12)的所述折射率(n1)。
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