[发明专利]对经校正的X射线探测器信号的处理

摘要

本发明涉及通过将探测器信号与校正信号相叠加来校正探测器信号d。为了提供有效的校正信号，周期性地或随机地提供采样脉冲Ps。该采样脉冲充当用于对处理单元(14)的处理信号p进行采样的发起者，所述处理单元被配置为处理经校正的探测器信号。在对所述处理信号的采样期间，观测所述处理信号。在探测到处理信号处的脉冲的情况下，假设采样不适于校正探测器信号，因为脉冲影响所述处理信号。否则，亦即在采样时段期间未出现这样的处理信号脉冲的情况下，在采样时段之后布置的验证时段期间进一步观测所述处理信号。该验证时段被用于验证处理信号的经采样的处理值是否已经受到即将到来的处理信号处的脉冲的影响。在假设采样为有效的情况下，经采样的处理值被用作提供、特别是设置或更新所述校正信号的依据。经更新或重新设置的校正信号继而改变经校正的探测器信号的基线。作为本发明的效果，可以独立于直接知道X射线源向对象接收空间提供X射线辐射和/或向X射线探测器(42)提供其至少部分的计时来校正所述校正探测器信号的基线。因此，可以将本发明应用于任何X射线成像系统，与知道X射线量子和/或X射线光子何时撞击X射线探测器无关。

主权项

1.一种用于校正X射线探测器信号d的装置(10)，包括：‑输入接口(12)；‑信号处理单元(14)：以及‑信号校正单元(16)；其中，所述输入接口被配置为接收表示由X射线探测器(42)探测到的X射线辐射的探测器信号d，其中，所述探测器被配置为使得所述探测器信号包括与探测到的X射线量子和/或X射线光子有关的一个或多个脉冲；其中，所述装置被配置为：基于所述探测器信号与校正信号c之间的差来确定基础信号b，并且周期性地或随机地提供采样脉冲Ps，其中，当在所述探测器处未探测到脉冲时，所述基础信号能够被视为校正的探测器信号，并且这样，所述基础信号形成针对所述探测器信号的基线；其中，所述信号处理单元被配置为基于所述基础信号来提供处理信号p，其中，所述信号处理单元被配置为处理所述校正的探测器信号以提供所述处理信号；其中，所述信号校正单元被配置为：(i)在所述采样脉冲之后的第一采样时段Ts1对所述处理信号的第一处理值V1进行采样，(ii)在所述第一采样时段和所述第一采样时段之后的第一验证时段Tv1期间观测所述处理信号，(iii)在所述第一采样时段和/或所述第一验证时段期间出现第一处理信号脉冲的情况下，探测所述处理信号处的所述第一处理信号脉冲U1；并且(iv)如果尚未探测到所述第一处理信号脉冲，则基于所述第一验证时段之后的所述第一处理值来提供所述校正信号。