[发明专利]光波导路的检查方法和使用该检查方法的光波导路的制造方法在审

专利信息
申请号: 201680067031.6 申请日: 2016-12-08
公开(公告)号: CN108291853A 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 小泽博纪;辻田雄一;有马明 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G02B6/12;G02B6/13;G02B6/43
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供能够简便地检查在光波导路的芯上形成的反光面的弯曲程度(平面形成度)的光波导路的检查方法和使用该检查方法的光波导路的制造方法。在本发明的光波导路的检查方法中,使来自光源(10)的光(L1)自光波导路W1的芯(7)的第2端部的连接面(7c)入射并在第1端部的反光面(7a、7b)反射,之后自光波导路(W1)射出,利用具有摄像元件的照相机(20)来拍摄该射出光(L1)。然后,通过求出该拍摄到的图像的亮度,从而测量射出光(L1)的亮度。该亮度的测量值越大,能够判断为反光面(7a、7b)的弯曲程度越小。因此,对于上述亮度的测量值大于基准值的光波导路,其反光面(7a、7b)近似于平面,能够将其作为上述检查的合格品。
搜索关键词: 光波导路 检查 反光面 测量 射出光 合格品 摄像元件 连接面 拍摄 反光 入射 射出 照相机 反射 光源 近似 制造 图像
【主权项】:
1.一种光波导路的检查方法,该光波导路的检查方法的特征在于,该光波导路的检查方法包括:准备光波导路的工序,该光波导路具有光路用的线状的芯且在该芯的第1端部形成有光路变换用的反光面;以及测量亮度的工序,在该测量亮度的工序中,使光自上述芯的第2端部入射到该芯内,使该光在上述反光面反射,之后自上述光波导路射出,对该射出来的射出光的亮度进行测量,根据上述亮度的测量值来检查上述反光面的弯曲程度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680067031.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top