[发明专利]电力用半导体装置有效

专利信息
申请号: 201680068081.6 申请日: 2016-07-01
公开(公告)号: CN108369927B 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 畑中康道;原田耕三;原田启行;西村隆;真船正行;山田浩司 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 贾成功
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明得到在电力用半导体装置的温度循环、高温保存中防止有机硅凝胶的裂纹产生、耐热性和可靠性高的电力用半导体装置。其具备:在上表面形成有金属层22的绝缘衬底2;与金属层22的上表面接合的半导体元件3及主电极5;将金属层22与半导体元件3连接的金属配线4;与绝缘衬底2的下表面侧接合的金属构件1;包围绝缘衬底2、且与金属构件1的接合有绝缘衬底2的面相接的壳体构件6;密封树脂8,其填充于由金属构件1与壳体构件6所包围的区域,室温下的树脂强度为0.12MPa以上,微晶化温度为‑55℃以下,在175℃下保存1000小时后的针入度为30以上且50以下,将绝缘衬底2、金属层22、半导体元件3、金属配线4和主电极5进行密封。
搜索关键词: 电力 半导体 装置
【主权项】:
1.一种电力用半导体装置,其特征在于,具备:在上表面形成有金属层的绝缘衬底;与所述金属层的上表面接合的半导体元件及主电极;将所述金属层与所述半导体元件连接的金属配线;与所述绝缘衬底的下表面侧接合的金属构件;包围所述绝缘衬底、且与所述金属构件粘接的壳体构件;和密封树脂,其填充于由所述金属构件与所述壳体构件所包围的区域中,室温下的树脂强度为0.12MPa以上,微晶化温度为‑55℃以下,在175℃下保存1000小时后的针入度为30以上且50以下,将所述绝缘衬底、所述金属层、所述半导体元件、所述金属配线和所述主电极进行密封。
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