[发明专利]用于测试插座的浮动嵌套有效
申请号: | 201680069113.4 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN108738355B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | B·N·埃尔德里奇 | 申请(专利权)人: | 佛姆法克特股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/26;G01R1/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 顾峻峰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于便于测试被测装置(DUT)的测试插座,包括保持器,该保持器包括用于将保持器附接到插座的其他部件的安装结构和可将DUT设置于其中的浮动嵌套结构。浮动嵌套结构可具有座腔,该座腔的尺寸和形状被设置为:接收并保持DUT,使得当测试插座附接到测试板时,DUT端子中的至少一些与测试版的对应接触件接触。挠曲件横向地位于安装结构和浮动嵌套结构之间,并且可允许嵌套结构相对于安装结构移动并因此浮动。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 插座 浮动 嵌套 | ||
【主权项】:
1.一种测试插座,其被配置为保持被测装置(DUT)并且附接到测试板以及与所述测试板分离,所述测试板包括用于接触所述DUT的端子的细长接触件,所述测试插座包括保持器,所述保持器包括:安装结构,所述安装结构包括附接特征,所述附加特征被配置为便于将所述插座附接到所述测试板以及将所述插座与所述测试板分离;浮动嵌套,所述浮动嵌套包括座腔,所述座腔的尺寸和形状被设置为:当所述测试插座附接到所述测试板时,在所述DUT端子中的多个DUT端子与所述测试板的所述细长接触件中的对应的多个细长接触件接触的情况下,接收和保持所述DUT;以及挠曲件,所述挠曲件横向地设置在所述安装结构和所述浮动嵌套之间,并且允许所述浮动嵌套相对于所述安装结构移动。
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