[发明专利]自动分析装置及其控制方法在审
| 申请号： | 201680070155.X | 申请日： | 2016-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN108291920A | 公开（公告）日： | 2018-07-17 |
| 发明（设计）人： | 松冈裕哉;牧野彰久;山崎创 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N35/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 金成哲;郭成周 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 自动分析装置具有：能载置多个能收纳试样与试剂的混合液的反应容器的反应盘；覆盖上述反应盘的上方的至少一部分的第一罩；能与上述第一罩独立地开闭的第二罩；监视上述第一罩的开闭的至少一个传感器；控制部，其以下述方式进行控制：监视来自上述传感器的信号，当在直到新的分析动作开始的期间，上述第一罩没有开闭时，跳过分析开始前的清洗动作和空白测定动作的一方或双方。 | ||
| 搜索关键词： | 开闭 自动分析装置 反应盘 传感器 监视 收纳 动作开始 空白测定 混合液 跳过 载置 清洗 分析 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，其特征在于，具有：能载置多个能收纳试样与试剂的混合液的反应容器的反应盘；覆盖上述反应盘的上方的至少一部分的第一罩；能与上述第一罩独立地开闭的第二罩；监视上述第一罩的开闭的至少一个传感器；控制部，其以下述方式进行控制：监视来自上述传感器的信号，当在直到新的分析动作开始的期间，上述第一罩没有开闭时，跳过分析开始前的清洗动作和空白测定动作的一方或双方。
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