[发明专利]用于光学检测至少一个对象的检测器在审

专利信息
申请号: 201680070553.1 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN108291970A 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: R·森德;I·布鲁德;S·瓦鲁施 申请(专利权)人: 特里纳米克斯股份有限公司
主分类号: G01S17/42 分类号: G01S17/42;G01S17/46;G01S7/481
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 贺月娇;杨晓光
地址: 德国莱茵河*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 公开了光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)。检测器(110)包括:至少一个纵向光学传感器(114),其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130),其中纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号,其中在给定相同照射总功率的情况下,纵向传感器信号依赖于光束(132)在传感器区域(130)中的光束横截面,其中纵向传感器信号还依赖于纵向光学传感器(114)的至少一个特性,其中纵向光学传感器(114)的特性是可调节的;和至少一个评估装置(138),其中评估装置(138)被设计为通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号产生关于对象(112)的纵向位置的至少一项信息。
搜索关键词: 光学传感器 纵向传感器 检测器 传感器区域 光学检测 评估装置 照射 光束横截面 信号产生 信号依赖 纵向位置 可调节 总功率 评估
【主权项】:
1.一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110),包括:‑至少一个纵向光学传感器(114),其中所述纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130),其中所述纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对所述传感器区域(130)的照射的方式产生至少一个纵向传感器信号,其中在给定相同的照射总功率的情况下,所述纵向传感器信号依赖于所述光束(132)在所述传感器区域(130)中的光束横截面,其中所述纵向传感器信号进一步依赖于所述纵向光学传感器(114)的至少一个特性,其中所述纵向光学传感器(114)的所述特性是可调节的;以及‑至少一个评估装置(138),其中所述评估装置(138)被设计为通过评估所述纵向光学传感器(114)的所述纵向传感器信号而产生关于所述对象(112)的纵向位置的至少一项信息。
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