[发明专利]通过接触力学测量局部拉伸应力下的材料性能有效
申请号: | 201680071686.0 | 申请日: | 2016-12-09 |
公开(公告)号: | CN108603822B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
发明(设计)人: | 西蒙·C·贝勒马尔;史蒂文·D·帕尔科维奇;布朗东·M·威利;菲利普·A·苏西 | 申请(专利权)人: | 马萨诸塞材料技术有限公司 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/18;G01N3/42;G01N3/46;G01N19/06 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 陆弋;安翔 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于在基底中执行接触力学试验的设备,其包括具有至少两个接触元件的触针。每个接触元件具有接触轮廓,并且所述接触元件布置在触针中,以在所述接触元件之间限定拉伸通道。所述触针被构造成使基底变形,以使基底在所述接触元件之间流动并在基底中引起张力,以便在基底中产生并保留微改变。还提供了使用所述设备执行接触力学试验的方法。 | ||
搜索关键词: | 通过 接触 力学 测量 局部 拉伸 应力 材料 性能 | ||
【主权项】:
1.一种用于在基底中执行接触力学试验的设备,所述设备包括:具有至少两个接触元件的触针,每个接触元件具有接触轮廓,所述接触元件布置在所述触针中,以在所述接触元件之间限定拉伸通道,所述触针被构造成使所述基底变形,以使所述基底在所述接触元件之间流动并在所述拉伸通道内引起所述基底中的张力,以便在所述基底中产生并保留微改变。
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