[发明专利]用于结构光深度图的离群值检测和校正的方法和设备有效
| 申请号： | 201680072006.7 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108369729B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | A·J·林德纳;K·M·阿塔纳索夫;S·M·维罗尔 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T7/521 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 杨林勳 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开用于校正由结构光系统产生的深度图中的错误的系统和方法。在一个方面，一种方法包含将深度图分为若干节段，以及计算每一节段的深度值的密度分布。所述方法包含通过确定落在深度值范围之外的所述深度值来检测错误(或“离群”)值，所述深度值范围表示给定节段的最高密度深度值。所述方法包含基于每一节段的密度分布值来整体检测所述深度图中的错误值。 | ||
| 搜索关键词： | 深度图 节段 密度分布 校正 方法和设备 结构光系统 范围表示 整体检测 结构光 检测 | ||
【主权项】：
1.一种设备，其包括：发射器，其经配置以投影视野中的多个码字；接收器，其经配置以接收所投影码字的每一者从所述视野中的表面的反射；以及处理器，其经配置以：基于接收到的反射产生深度图，每一反射具有相应的深度值；确定所述深度图的多个节段，每一节段包括若干所述反射；确定每一节段中的下部分位数深度值和上部分位数深度值；以及基于每一节段中的所述下部分位数深度值和所述上部分位数深度值，产生用于所述深度图的全局深度范围。
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