[发明专利]使用特征回归模型根据MR数据的伪CT生成有效

专利信息
申请号: 201680072831.7 申请日: 2016-10-12
公开(公告)号: CN108770373B 公开(公告)日: 2022-08-19
发明(设计)人: 韩晓 申请(专利权)人: 医科达有限公司
主分类号: G06T3/00 分类号: G06T3/00;G06T5/00;G06T11/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杨铁成;杨林森
地址: 美国佐*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了用于生成可以被用于生成伪CT图像的伪CT预测模型的系统和方法。示例性系统可以包括被配置成检索训练数据的处理器,其中训练数据包括针对多个训练受试体中的每个训练受试体的至少一个MR图像和至少一个CT图像。针对每个训练受试体,处理器可以从所述至少一个MR图像的每个图像点提取多个特征,针对每个图像点基于所提取的特征来创建特征向量,并且从所述至少一个CT图像的每个图像点提取CT值。处理器还可以基于所述多个训练受试体的特征向量和CT值来生成伪CT预测模型。
搜索关键词: 使用 特征 回归 模型 根据 mr 数据 ct 生成
【主权项】:
1.一种用于生成伪CT预测模型的系统,包括:数据库,其被配置成存储包括多个训练受试体的磁共振(MR)数据和计算机断层摄影(CT)数据的训练数据,每个训练受试体具有至少一个MR图像和至少一个CT图像;处理器,其通信耦接至所述数据库,用于访问存储在所述数据库中的信息;存储器,其通信耦接至所述处理器,所述存储器存储指令,所述指令在由所述处理器执行时将所述处理器配置成执行操作,所述操作包括:访问所述数据库以检索包括针对所述多个训练受试体中的每个训练受试体的至少一个MR图像和至少一个CT图像的所述训练数据;针对每个训练受试体:从所述至少一个MR图像的每个图像点提取多个特征;针对每个图像点基于所提取的特征来创建特征向量;以及从所述至少一个CT图像的每个图像点提取CT值;以及基于所述多个训练受试体的所述特征向量和所述CT值来生成所述伪CT预测模型。
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