[发明专利]光电转换装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201680075334.2 申请日: 2016-12-06
公开(公告)号: CN108431967B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 宇都俊彦;足立大辅 申请(专利权)人: 株式会社钟化
主分类号: H01L31/0747 分类号: H01L31/0747;H01L31/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李书慧;金世煜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在晶体硅系太阳能电池的制造中,在导电型单晶硅基板(1)上形成第一本征薄膜(121)后进行氢等离子体蚀刻。在氢等离子体蚀刻后的第一本征薄膜(121)上形成第二本征薄膜(122),在其上形成导电型硅系薄膜(15)。第二本征薄膜(122)是一边向CVD腔室内导入含硅气体和氢一边通过等离子体CVD而形成的。第二本征薄膜(122)形成时的向CVD腔室内的氢导入量为含硅气体导入量的50~500倍。
搜索关键词: 光电 转换 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种晶体硅系太阳能电池的制造方法,所述晶体硅系太阳能电池在导电型单晶硅基板的一个主面上依次具有本征硅系薄膜和导电型硅系薄膜,所述制造方法依次具有如下工序:在导电型单晶硅基板上形成具有3~15nm的膜厚的第一本征薄膜的工序,将所述第一本征薄膜的表面暴露于氢等离子体而进行氢等离子体蚀刻的工序,在氢等离子体蚀刻后的所述第一本征薄膜上形成具有0.5~5nm的膜厚的第二本征薄膜的工序,以及在所述第二本征薄膜上形成与其相接的导电型硅系薄膜的工序;所述第二本征薄膜是一边向CVD腔室内导入含硅气体和氢一边通过等离子体CVD而形成的,第二本征薄膜形成时的向CVD腔室内的氢导入量为含硅气体导入量的50~500倍。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社钟化,未经株式会社钟化许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680075334.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top