[发明专利]个数分析方法、个数分析装置以及个数分析用记录介质有效
| 申请号： | 201680075604.X | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN108474726B | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 鷲尾隆;川合知二;谷口正輝;筒井真楠;横田一道;石井陽;吉田剛 | 申请（专利权）人： | 艾珀尔有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/12 | 分类号： | G01N15/12;C12M1/34;C12Q1/04;G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 陈有业 |
| 地址： | 日本东京都涩谷*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | [课题]本发明提供能够高精度地分析粒子状或者分子状的分析物的类别所相应的个数乃至个数分布的个数分析方法、个数分析装置以及个数分析用记录介质。[解决手段]相应于检体的粒子的贯通孔(12)的通过，以由纳米孔设备(8)检出了的粒子通过检出信号的数据组为基础，通过执行电脑控制程序，根据作为个数导出机制的粒子种类分布推定程序的执行，从基于将作为该粒子通过检出信号所获得的与粒子通过对应的脉冲状信号的波形形态的特征进行表示的特征量的数据组进行概率密度推定，能够导出粒子类别的个数。 | ||
| 搜索关键词： | 个数 分析 方法 装置 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
1.一种个数分析方法，其配置：形成了贯通孔的分隔壁、和介由所述贯通孔在分隔壁的表被侧所配置的电极，将含有粒子状或者分子状的分析物的流动性物质供给到所述分隔壁的一面侧，以对由所述分析物通过所述贯通孔而产生的电极间的通电变化所检出了的检出信号的数据为基础，通过电脑控制程序的执行来对分析物类别的个数进行分析，其特征在于，所述电脑控制程序是从以将作为所述检测信号而获得的与分析物通过所对应的脉冲状信号的波形形态的特征进行表示的特征量为基础的数据组来进行概率密度推定、并至少具有导出分析物类别的个数的个数导出机制。
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