[发明专利]具有优化性能和增益的场效应晶体管在审

专利信息
申请号: 201680077236.2 申请日: 2016-10-27
公开(公告)号: CN108475696A 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: J-C·雅凯;P·加马拉;S·彼得罗维奇;C·拉康;M-A·普瓦松;O·帕塔尔 申请(专利权)人: 塔莱斯公司;原子能和辅助替代能源委员会
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/201;H01L29/20;H01L29/207
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李隆涛
地址: 法国库*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种包括半导体堆叠的晶体管,半导体堆叠具体包括特定厚度合理放置的第一子层(16),其将缓冲层(12)分成两部分(12a;12b)并且包括第三半导体(Mat3),使得缓冲层的半导体和第三半导体(Mat3)的压电和自发极化系数之间的差异在缓冲层的第一部分(12a)、与第一子层(16)之间的第一界面(17)处感应产生电场的第一固定表面电荷,该电场沿着z轴线定向以便允许二维气(9)被限制到沟道。
搜索关键词: 缓冲层 半导体 半导体堆叠 电场 子层 场效应晶体管 自发极化系数 固定表面 电荷 晶体管 二维 沟道 压电 优化
【主权项】:
1.一种场效应晶体管,其包括沿着z轴线的堆叠(Emp),所述堆叠包括:包括第一半导体(Mat1)的阻挡层(13);在所述阻挡层(13)和缓冲层(12)之间的异质结(15);以及二维气(9),所述二维气被限制到位于垂直于z轴线的xy平面中且位于异质结(15)附近的沟道,所述缓冲层(12)包括包含AlxGa(1‑x)N的第二半导体(Mat2),x是所述缓冲层(12)的铝含量,其特征在于,所述堆叠还包括第一子层(16),所述第一子层将所述缓冲层(12)分成两个部分(12a;12b)且包括包含Alx1Ga(1‑x1)N的第三半导体(Mat3),x1高于x+15%,x1是所述子层(16)的铝含量,使得所述第二半导体(Mat2)和所述第三半导体(Mat3)的压电和自发极化系数之间的差异在所述缓冲层的第一部分(12a)与所述第一子层(16)之间的第一界面(17)处感应产生电场的第一固定表面电荷(Q1),所述电场沿着所述z轴线指向并且朝向所述第一界面(17)定向,以便允许所述二维气(9)被限制到所述沟道,在所述异质结(15)和、位于所述缓冲层的第一部分(12a)与所述第一子层(16)之间的第一界面(17)之间的距离被包括在沿垂直于所述晶体管的堆叠的方向Oz的方向Ox的所述栅极长度(Lg)的三分之一和所述栅极长度(Lg)的两倍之间。
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