[发明专利]控制功能模式和测试模式之间的转换在审
| 申请号： | 201680079099.6 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN108496222A | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 约翰·L·麦克廉姆斯 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/04;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 康泉;宋志强 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在一些示例中，控制逻辑芯片的功能模式和测试模式之间的转换的方法包括响应于逻辑芯片处于功能模式中的指示，启用禁用电路的时钟输入端。响应于启用禁用电路的时钟输入端，阻止从逻辑芯片的功能模式到逻辑芯片的测试模式的转换。响应于逻辑芯片处于测试模式中的指示，禁用禁用电路的时钟输入端。响应于检测到逻辑芯片的使存储元件中的信息不可访问的条件，启用逻辑芯片从功能模式到测试模式的转换。 | ||
| 搜索关键词： | 逻辑芯片 测试模式 功能模式 禁用 时钟输入端 响应 转换 电路 控制逻辑芯片 存储元件 控制功能 检测 访问 | ||
【主权项】：
1.一种控制逻辑芯片的功能模式和测试模式之间的转换的方法，包括：响应于所述逻辑芯片处于所述功能模式中的指示，启用禁用电路的时钟输入端；响应于启用所述禁用电路的时钟输入端，阻止从所述逻辑芯片的所述功能模式到所述逻辑芯片的所述测试模式的转换；响应于所述逻辑芯片处于所述测试模式中的指示，禁用所述禁用电路的时钟输入端；以及响应于检测到所述逻辑芯片的使存储元件中的信息不可访问的条件，启用所述逻辑芯片从所述功能模式到所述测试模式的转换。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司有限责任合伙企业，未经惠普发展公司有限责任合伙企业许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680079099.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：自适应量化
- 下一篇：用于处理和提供数据的电子设备及其操作方法
