[发明专利]用于追踪和检测的靶修饰在审
| 申请号： | 201680079704.X | 申请日： | 2016-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN108474760A | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | T·J·莫林;D·A·海勒;W·B·邓巴;T·施罗普施雷 | 申请（专利权）人： | 双孔人公司 |
| 主分类号： | G01N27/447 | 分类号： | G01N27/447;G01N33/487 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈文平;黄海波 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及经修饰以促进在纳米孔装置中检测的靶分子。本发明进一步涉及使用纳米孔装置检测这种经修饰的靶分子的方法。它还公开了使用这种经修饰的靶分子用于追踪和验证药物、化学或生物产品并测量包含所述经修饰的靶分子的样品的各种条件的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 修饰 靶分子 纳米孔装置 检测 追踪 生物产品 验证药物 测量 | ||
【主权项】：
1.一种设计用于纳米孔检测的复合物，其包含：包含第一附着位点的靶分子；和包含第一附着位点的驱动分子，其中所述驱动分子的第一附着位点与所述靶分子的第一附着位点形成共价键。
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