[发明专利]磁共振成像磁场依赖弛豫法系统和方法有效

专利信息
申请号: 201680079723.2 申请日: 2016-01-22
公开(公告)号: CN108496091B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 查德·泰勒·哈里斯;亚历山大·盖尔斯·潘瑟;杰夫·艾伦·施泰因比;戴维·马克·德舍纳;菲利普·J·贝蒂 申请(专利权)人: 圣纳普医疗公司
主分类号: G01R33/50 分类号: G01R33/50
代理公司: 北京京万通知识产权代理有限公司 11440 代理人: 魏振华;万学堂
地址: 加拿大安大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本披露提供磁共振成像(MRI)磁场依赖弛豫法系统和方法。弛豫参数,其包括纵向弛豫时段(T1)和横向弛豫时段(T2),是根据在同一MRI系统中不同的磁场强度下获取的磁共振信号数据估算。通过测量此弛豫参数作为磁场强度函数可生成T1分散数据、T2分散数据、或两者。定量的生理参数可基于这种分散数据来估计。举例,铁含量可从T2分散数据估计。
搜索关键词: 磁共振 成像 磁场 依赖 法系 方法
【主权项】:
1.一种磁共振成像(MRI)磁场依赖弛豫法的方法,其过程包括:(a)从测试对象使用MRI系统在第一组多个不同时间测量磁共振信号来获取第一组数据,所述MRI系统的主磁场是配置在第一磁场强度;(b)将MRI系统主磁场调整到第二磁场强度;(c)从测试对象使用MRI系统在第二组多个不同时间测量磁共振信号来获取第二组数据,所述MRI系统的主磁场是配置在第二磁场强度;(d)将第一数据拟合到一个信号模型来估计第一弛豫参数值,所述信号模型描述磁共振信号弛豫为一个弛豫参数函数;(e)将第二数据拟合到所以信号模型来估计第二弛豫参数值;以及(f)将第一弛豫参数值与第一磁场强度相联并且将第二弛豫参数值与第二磁场强度相联来产生分散数据。
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