[发明专利]光电导体充电均匀性校正在审
| 申请号： | 201680079761.8 | 申请日： | 2016-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN108496117A | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 兰·维德曼;萨西·穆阿利姆;考比·什库里 | 申请（专利权）人： | 惠普深蓝有限责任公司 |
| 主分类号： | G03G15/02 | 分类号： | G03G15/02;G03G15/00 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 康泉;宋志强 |
| 地址： | 荷兰阿姆*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 描述了对图像形成装置中的光电导层进行充电的示例。在一个示例中，一种方法包括：向光电导层施加充电电压并且在光电导层上的多个位置处测量光电导层的表面电压。基于测量的表面电压来确定校正电压分布。确定的校正电压分布至少包括：与光电导层上的第一位置相关联的第一校正电压，以及与光电导层上的不同于第一位置的第二位置相关联的第二校正电压。该方法包括：将第一校正电压施加到光电导层，以及将第二校正电压施加到光电导层。 | ||
| 搜索关键词： | 光电导层 校正电压 表面电压 第一位置 施加 测量 图像形成装置 充电均匀性 关联 充电电压 第二位置 光电导体 位置处 校正 充电 | ||
【主权项】：
1.一种图像形成装置，包括：包括光电导层的光电导单元；充电单元；测量单元；以及控制器，其中：所述充电单元能够由所述控制器控制，以向所述光电导层施加充电电压；所述测量单元能够由所述控制器控制，以在所述光电导层上的多个位置处测量所述光电导层的表面电压；所述控制器用于：基于测量的表面电压来确定校正电压分布，其中，确定的校正电压分布包括：与所述光电导层上的第一位置相关联的第一校正电压；以及与所述光电导层上的不同于所述第一位置的第二位置相关联的第二校正电压；启动所述第一校正电压到所述光电导层上的所述第一位置的施加；以及启动所述第二校正电压到所述光电导层上的所述第二位置的施加。
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