[发明专利]微型光谱仪和用于在成像模式与光谱仪模式之间切换微型光谱仪的方法有效

专利信息
申请号: 201680080692.2 申请日: 2016-12-05
公开(公告)号: CN108496066B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: I.赫尔曼;M.胡斯尼克;E.鲍姆加特;C.胡贝尔;B.施泰因 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01J3/08 分类号: G01J3/08;G01J3/447;G01J3/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 杜荔南;申屠伟进
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪(10),包括:‑探测单元(7),用于检测光学参量;和‑光学单元,包括极化器(2)、Savart元件(40)和分析器(5),所述Savart元件包括第一双折射元件(4a)和第二双折射元件(4b),其特征在于,‑在极化器(2)和Savart元件(40)之间的光路中布置第一液晶元件(3a),其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射(103)的第四极化轴(203)调整为,使得从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件(4a)并且从第一液晶元件射出的辐射(103)在微型光谱仪(10)的光谱仪模式中在第一双折射元件(4a)中被分裂成第一正常射束(500b)和第一异常射束(500a),并且‑其中在Savart元件(40)后方的光路中布置分析器(5),并且‑在分析器(5)后方的光路中布置探测单元(7)。
搜索关键词: 微型 光谱仪 用于 成像 模式 之间 切换 方法
【主权项】:
1.用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪(10),所述微型光谱仪包括:‑ 探测单元(7),用于检测光学参量;和‑ 光学单元,所述光学单元包括极化器(2)、Savart元件(40)和分析器(5),其中所述Savart元件包括第一双折射元件(4a)和第二双折射元件(4b),其特征在于,‑ 在所述极化器(2)与所述Savart元件(40)之间的光路中布置第一液晶元件(3a),所述第一液晶元件被设计用于,将从所述第一液晶元件射出的辐射(103)的第四极化轴(203)调整为,使得• 从所述第一液晶元件射出的辐射(103)在所述微型光谱仪(10)的成像模式(700)中在没有分裂的情况下通过所述第一双折射元件(4a)并且• 从所述第一液晶元件射出的辐射(103)在所述微型光谱仪(10)的光谱仪模式(701)中在第一双折射元件(4a)中被分裂成第一正常射束(500b)和第一异常射束(500a),并且‑ 其中在所述Savart元件(40)后方的光路中布置所述分析器(5),并且‑ 在所述分析器(5)后方的光路中布置所述探测单元(7)。
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