[发明专利]磁场测定方法及磁场测定装置有效

专利信息
申请号: 201680081122.5 申请日: 2016-08-22
公开(公告)号: CN108603920B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 松田哲也;山本和男 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02;H01F7/20;H05H7/04
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 刘杨
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 目的在于提供一种高精度地确定具备多个线圈的组合线圈的线圈间中心位置的磁场测定方法。本发明的磁场测定方法的特征在于,包括:第一径向磁场测定步骤,通过配置在从线圈轴(3)分离的偏置位置的磁场测定元件(2),在偏置位置处测定沿着与线圈轴(3)平行的偏置轴(旋转轴(4))的第一径向磁场;第二径向磁场测定步骤,在偏置位置处,通过旋转了设定角度的磁场测定元件(2),测定沿着偏置轴的第二径向磁场;以及中心位置确定步骤,基于第一径向磁场的偏置轴方向的特性即第一径向磁场特性(磁场分布(64))和第二径向磁场的偏置轴方向的特性即第二径向磁场特性(磁场分布(65))来确定线圈间中心位置。
搜索关键词: 磁场 测定 方法 装置
【主权项】:
1.一种磁场测定方法,所述磁场测定方法确定测定对象线圈的径向磁场的分布中的线圈轴方向的中心位置即线圈间中心位置,所述测定对象线圈是具备线圈轴相同的多个线圈的组合线圈,且沿着所述线圈轴的至少一个径向上的所述径向磁场的分布关于与所述线圈轴垂直的面对称,其特征在于,所述磁场测定方法包括:第一径向磁场测定步骤,通过配置在从所述线圈轴沿径向分离设定长度的偏置位置的磁场测定元件,在所述偏置位置处测定沿着与所述线圈轴平行的偏置轴的第一径向磁场;第二径向磁场测定步骤,在所述偏置位置处,通过以所述偏置轴为中心旋转了设定角度的所述磁场测定元件,测定沿着所述偏置轴的第二径向磁场;以及中心位置确定步骤,基于第一径向磁场特性和第二径向磁场特性来确定所述线圈间中心位置,所述第一径向磁场特性是在所述第一径向磁场测定步骤中测定出的所述第一径向磁场的所述偏置轴方向的特性,所述第二径向磁场特性是在所述第二径向磁场测定步骤中测定出的所述第二径向磁场的所述偏置轴方向的特性。
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