[发明专利]用于分析位于产品室中的待分析物品的设备在审
| 申请号： | 201680081232.1 | 申请日： | 2016-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN108603832A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | J.曼哈特;A.兰布雷希特;G.苏尔兹 | 申请（专利权）人： | 蓝海新星股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/3577 | 分类号： | G01N21/3577;G01N21/359;G01N21/552;G01N21/85 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于分析位于产品室(10)中的待分析物品的设备(1)，包括：设置在探针壳体(2)中的具有周壁(31)的探针主体(3)；至少一个射线源和至少一个光学接收器；探针主体(3)中的至少一个测量窗口(6)，所述测量窗口具有用于测量射线的入口区域(61)和出口区域(62)；和评估单元(7)。探针主体(3)可被引入测量位置处，在所述测量位置处所述测量窗口(6)所在的探针主体(3)的至少一部分穿过探针壳体(2)的开口(21)被插入产品室(10)中以便进行分析。此外，探针主体(3)可被引入缩回位置处，在所述缩回位置处探针主体(3)至少还部分地位于探针壳体(2)的开口(21)的区域中并且与此同时覆盖开口(21)。根据本发明的解决方案，至少一个测量窗口是ATR元件(6)，其中ATR元件(6)布置在束路径中的探针主体(3)的周壁(31)的至少一个子区域中。 | ||
| 搜索关键词： | 探针主体 测量窗口 探针壳体 产品室 测量位置 缩回位置 开口 分析 周壁 光学接收器 出口区域 评估单元 入口区域 射线源 子区域 引入 射线 测量 穿过 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析位于产品室(10)中的待分析物品的设备(1)，包括：‑设置在探针壳体(2)中的具有周壁(31)的探针主体(3)，‑至少一个射线源(4)和至少一个光学接收器(5)，‑探针主体(3)中的至少一个测量窗口(6)，所述测量窗口具有用于测量射线的入口区域(61)和出口区域(62)，‑评估单元(7)，‑探针主体(3)的测量位置，在所述测量位置处测量窗口(6)所在的探针主体(3)的至少一部分穿过探针壳体(2)的开口(21)插入到产品室(10)中以便进行分析，和‑探针主体(3)的缩回位置，在所述缩回位置处探针主体(3)至少还部分地位于探针壳体(2)的开口(21)的区域中并且与此同时覆盖开口(21)，其特征在于‑至少一个测量窗口是ATR元件(6)，和‑ATR元件(6)布置在束路径中的探针主体(3)的周壁(31)的至少一个子区域中。
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