[发明专利]三维表面电位分布测量装置有效
申请号: | 201680081323.5 | 申请日: | 2016-02-08 |
公开(公告)号: | CN108713149B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 古川真阳;吉满哲夫;坪井雄一;日高邦彦;熊田亚纪子;池田久利 | 申请(专利权)人: | 东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人东京大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R31/34 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种测量测定对象的表面电位的三维表面电位分布测量系统(100),具有:激光光源;普克尔斯晶体,具有折射率根据第1端面与第2端面之间的电位差的变化而变化的普克尔斯效应;镜,被设置成与第2端面接触;光检测器,检测与普克尔斯晶体的电位差对应的激光光束的光强度;框体(31),保持以上部件;三维移动驱动装置(30),能够三维地对框体(31)进行移动驱动;以及驱动控制部(50),控制三维移动驱动装置(30)。 | ||
搜索关键词: | 三维 表面 电位 分布 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种三维表面电位分布测量系统,对测定对象的表面电位进行测量,其特征在于,该三维表面电位分布测量系统具有:激光光源,出射激光光束;普克尔斯晶体,具有第1端面及第2端面,并具有折射率根据所述第1端面与所述第2端面之间的电位差的变化而变化的普克尔斯效应,并且配置成使所述第1端面面向供从所述激光光源出射的所述激光光束入射的一侧,使所述第2端面面向所述测定对象侧,该普克尔斯晶体沿着所述激光光束的传播方向在长度方向上延伸;镜,设于所述第2端面,使从所述普克尔斯晶体的所述第1端面入射的所述激光光束向与所述入射的方向相反的方向反射;光检测器,具有跟随逆变器脉冲电压的高频分量的频带,接受通过所述镜被反射的所述激光光束,检测与所述普克尔斯晶体的所述第1端面和所述第2端面之间的电位差对应的所述激光光束的光强度;框体,一面维持所述激光光源、所述普克尔斯晶体、所述镜和所述光检测器相互间的相对位置关系,一面保持所述激光光源、所述普克尔斯晶体、所述镜和所述光检测器;三维移动驱动装置,能够三维地对所述框体进行移动驱动;以及驱动控制部,控制所述三维移动驱动装置。
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