[发明专利]三维表面电位分布测量装置有效

专利信息
申请号: 201680081323.5 申请日: 2016-02-08
公开(公告)号: CN108713149B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 古川真阳;吉满哲夫;坪井雄一;日高邦彦;熊田亚纪子;池田久利 申请(专利权)人: 东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人东京大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;G01R31/34
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种测量测定对象的表面电位的三维表面电位分布测量系统(100),具有:激光光源;普克尔斯晶体,具有折射率根据第1端面与第2端面之间的电位差的变化而变化的普克尔斯效应;镜,被设置成与第2端面接触;光检测器,检测与普克尔斯晶体的电位差对应的激光光束的光强度;框体(31),保持以上部件;三维移动驱动装置(30),能够三维地对框体(31)进行移动驱动;以及驱动控制部(50),控制三维移动驱动装置(30)。
搜索关键词: 三维 表面 电位 分布 测量 装置
【主权项】:
1.一种三维表面电位分布测量系统,对测定对象的表面电位进行测量,其特征在于,该三维表面电位分布测量系统具有:激光光源,出射激光光束;普克尔斯晶体,具有第1端面及第2端面,并具有折射率根据所述第1端面与所述第2端面之间的电位差的变化而变化的普克尔斯效应,并且配置成使所述第1端面面向供从所述激光光源出射的所述激光光束入射的一侧,使所述第2端面面向所述测定对象侧,该普克尔斯晶体沿着所述激光光束的传播方向在长度方向上延伸;镜,设于所述第2端面,使从所述普克尔斯晶体的所述第1端面入射的所述激光光束向与所述入射的方向相反的方向反射;光检测器,具有跟随逆变器脉冲电压的高频分量的频带,接受通过所述镜被反射的所述激光光束,检测与所述普克尔斯晶体的所述第1端面和所述第2端面之间的电位差对应的所述激光光束的光强度;框体,一面维持所述激光光源、所述普克尔斯晶体、所述镜和所述光检测器相互间的相对位置关系,一面保持所述激光光源、所述普克尔斯晶体、所述镜和所述光检测器;三维移动驱动装置,能够三维地对所述框体进行移动驱动;以及驱动控制部,控制所述三维移动驱动装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人东京大学,未经东芝三菱电机产业系统株式会社;国立大学法人东京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680081323.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top