[发明专利]用于颗粒的光学检测系统有效
| 申请号： | 201680082862.0 | 申请日： | 2016-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108700500B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | D·普林斯汀斯基 | 申请（专利权）人： | 生物辐射实验室股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N21/53 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 汪骏飞;侯颖媖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于颗粒的光学检测系统和方法。在示例性实施例中，该系统可包括通道、配置成产生光的光源、以及配置成将光束聚焦在通道内的照射区域上的一个或多个光学元件。该系统还可以包括可操作地设置在光源和通道之间的光路中的掩模。掩模可以被配置为阻挡光束的一部分，从而产生阴影区域。该系统还可以包括检测器，该检测器被配置为通过与穿过照射区域的颗粒的相互作用来检测从光束偏转到阴影区域中的光。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 颗粒 光学 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于颗粒的检测系统，包括：通道；光源，所述光源被配置为产生光；一个或多个光学元件，所述一个或多个光学元件被配置为将所述光的光束聚焦在所述通道内的照射区域上；掩模，所述掩模可操作地设置在所述光源和所述通道之间的光路中，其中所述掩模被配置为阻挡所述光束的一部分，从而产生阴影区域；以及检测器，所述检测器被配置为通过与穿过所述照射区域的颗粒的相互作用来检测从所述光束偏转到所述阴影区域中的光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于生物辐射实验室股份有限公司，未经生物辐射实验室股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680082862.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：流体中悬浮粒子的无标记表征
- 下一篇：气候测试设备
