[发明专利]传感器、传感器的基板以及传感器的制造方法在审
| 申请号： | 201680084934.5 | 申请日： | 2016-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN109073412A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 柳泽知之;窪川稔;小口寿明;古川秀树;川井康宽 | 申请（专利权）人： | 日本精工株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/12 | 分类号： | G01D5/12;G01D5/347 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 传感器包括：产生部，其用于产生预定的检测对象；检测部，其用于检测由产生部产生的检测对象；以及基板，产生部和检测部设于该基板，基板具有：第1部分，产生部设于该第1部分；第2部分，检测部设于该第2部分；弯曲部，其以使产生部与检测部彼此相对的方式在第1部分与第2部分之间弯曲；以及接地图案，其设在包含第1部分、第2部分以及弯曲部在内的范围内，在接地图案中，弯曲部所具有的接地图案比第1部分和第2部分所具有的接地图案细。 | ||
| 搜索关键词： | 接地图案 传感器 基板 弯曲部 检测 检测对象 彼此相对 制造 | ||
【主权项】：
1.一种传感器，其中，所述传感器包括：产生部，其用于产生预定的检测对象；检测部，其用于检测由所述产生部产生的所述检测对象；以及基板，所述产生部和所述检测部设于该基板，所述基板具有：第1部分，所述产生部设于该第1部分；第2部分，所述检测部设于该第2部分；弯曲部，其以使所述产生部与所述检测部彼此相对的方式在所述第1部分与所述第2部分之间弯曲；以及接地图案，其设在包含所述第1部分、所述第2部分以及所述弯曲部在内的范围内，在所述接地图案中，所述弯曲部所具有的接地图案比所述第1部分和所述第2部分所具有的接地图案细。
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