[发明专利]用于测量孔内壁几何形状的装置和对应的方法有效
| 申请号： | 201680086023.6 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN109313020B | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | J·哈斯;A·施特赖歇尔;B·裘川;G·舒奥莫瑟 | 申请（专利权）人： | 微-埃普西龙测量技术有限两合公司 |
| 主分类号： | G01B21/14 | 分类号： | G01B21/14;G01B21/20;G01B11/12;G01B11/24;G01N21/954 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 江漪 |
| 地址： | 德国奥*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测量孔、钻孔和通道的内壁几何形状的装置，这些孔、钻孔和通道可选地是沉头的且特别是用于工件的螺纹、销和铆钉连接，所述装置包括至少一个光学传感器，该光学传感器朝向内壁测量，并且能够被引入钻孔中以及通过进给/转动单元转动，其中，辅助件设置有通道且搁置在工件的表面上，所述传感器通过该通道进入沉头部和/或孔中。该装置的特征在于，辅助件的内壁设置有结构，且传感器在穿过辅助件时扫描所述结构。本发明还涉及对应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 内壁 几何 形状 装置 对应 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量孔、钻孔和通道的内壁几何形状的装置，所述孔、钻孔和通道任选地是沉头的且特别是用于工件的螺纹、销和铆钉连接，所述装置包括至少一个光学传感器，所述光学传感器朝向内壁测量，并且能够被引入钻孔中以及通过进给/转动单元转动，其中，辅助件设置有通道且搁置在所述工件的表面上，所述传感器通过所述通道被插入沉头部和/或孔中，其特征在于，所述辅助件的内壁设置有结构，且所述传感器在穿过所述辅助件时扫描所述结构。
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