[发明专利]用于确定X射线检测器错位的方法有效
| 申请号： | 201680086486.2 | 申请日： | 2016-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN109414231B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 罗水江 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文公开了一种方法，包括：在第一X射线检测器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)和第二X射线检测器(120，420，520，620，720，820，1020，1120)错位时从第一X射线检测器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)获得第三图像(410B，510B，610B，710B，820B，921)；在第一和第二检测器错位时，基于第一图像(410A，510A，610A，710A，820A，911)与第三图像(410B，510B，610B，710B，820B，921)之间的移位确定第一X射线检测器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)与第二X射线检测器(120，420，520，620，720，820，1020，1120)之间的错位；其中第一图像(410A，510A，610A，710A，820A，911)是如果第一和所述第二检测器对准则第一X射线检测器(110，410，510，610，710，810，1010，1110)应捕捉的图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 射线 检测器 错位 方法 | ||
【主权项】：
1.一种方法，包括：在第一X射线检测器和第二X射线检测器错位时从所述第一X射线检测器获得第三图像；基于第一图像与所述第三图像之间的移位确定所述第一X射线检测器与所述第二X射线检测器之间的错位；其中，所述第一图像是如果所述第一X射线检测器和所述第二X射线检测器对准则所述第一X射线检测器应捕捉的图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳帧观德芯科技有限公司，未经深圳帧观德芯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680086486.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于取样一种或多种分析物的装置
- 下一篇：用于对对象进行X射线成像的装置
