[发明专利]半导体晶片处理装置有效
申请号: | 201680087217.8 | 申请日: | 2016-05-27 |
公开(公告)号: | CN109415807B | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | J·舒格鲁;卢西恩·C·希迪拉;克里斯·G·M·德里德 | 申请(专利权)人: | 阿斯莫IP控股公司 |
主分类号: | C23C16/455 | 分类号: | C23C16/455 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 孟媛;姚开丽 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种空间原子层沉积装置(10),包括具有喷头侧部(18)的喷头(16),该喷头侧部具有中心、中心区域和圆周区域。该装置还包括具有基板支撑侧部的基座(12),该基板支撑侧部平行于喷头侧部并与喷头侧部相对地延伸,以形成间隙。基座和喷头可围绕旋转轴线相对于彼此旋转。该装置具有多个可切换喷头部段。该装置还包括多个多通阀组件。每个可切换喷头部段与多个多通阀组件中的一个流体连接,以便将多个不同气体源中的选定的一个与一个可切换喷头部段流体连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 晶片 处理 装置 | ||
【主权项】:
1.一种空间原子层沉积装置(10),其中,所述SALD装置(10)包括:基座(12),所述基座具有基板支撑表面(14),基板能够放置在所述基板支撑表面上;以及喷头(16),所述喷头具有喷头侧部(18),所述喷头侧部基本上平行于所述基板支撑表面(14)延伸,以在所述基板支撑表面(14a)和所述喷头侧部(18)之间形成间隙(20);其中,所述基座(12)和所述喷头(16)能够围绕旋转轴线(A)相对于彼此旋转,所述旋转轴线与所述喷头(16)的中心相交并且基本上垂直于所述基板支撑表面(14)延伸;其中,所述喷头(16)包括多个气体通道(64,68;96’),其中,每个气体通道与所述喷头(16)中的、通入到所述间隙(20)中的至少一个喷头开口(22)流体连接,以用于将气体供应到所述间隙(20)中和/或将气体从所述间隙排出,其中,每个气体通道与流体连接到所述气体通道的至少一个开口(22)限定出喷头部段(s1‑s12),使得所述喷头(16)包括多个喷头部段(s1‑s12);其中,所述SALD装置包括多个多通阀组件(24),每个多通阀组件(24)流体连接到所述喷头(16)的多个气体通道中的一个气体通道(64,68;96’),其中,每个多通阀组件(24)是可切换的以使流体连接到所述多通阀组件(24)的相应的气体通道(64,68;96’)与供应不同类型气体的多个不同气体源(28,30,32,34)中的选定的一个气体源流体连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿斯莫IP控股公司,未经阿斯莫IP控股公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680087217.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的