[发明专利]飞行时间质谱分析装置有效
| 申请号： | 201680088672.X | 申请日： | 2016-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN109643637B | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 水谷司朗 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 加速电压产生部(7)利用开关部(74)对由高电压电源部(75)生成的直流高电压进行导通/截止驱动，来生成对挤压电极(11)施加的高电压脉冲。从控制部(6)经由初级侧驱动部(71)、变压器(72)、次级侧驱动部(73)对开关部(74)供给驱动用脉冲信号。初级电压控制部(61)从温度传感器(77)接受加速电压产生部(7)的周围温度的测量结果，控制初级侧电源部(76)以根据该温度对初级侧电压进行变更。由此，调整对变压器(72)的初级绕组两端施加的施加电压。当周围温度变化时，开关部(74)的MOSFET等的特性变化，高电压脉冲的上升/下降的定时产生偏差，但通过对上述初级侧电压的调整，能够使MOSFET的栅极电压的上升斜坡的斜率变化，来校正高电压脉冲的上升/下降的定时的偏差。其结果，能够不取决于周围温度地实现高的质量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 飞行 时间 谱分析 装置 | ||
【主权项】：
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