[发明专利]成像质谱分析数据处理装置及方法有效

专利信息
申请号: 201680088785.X 申请日: 2016-08-26
公开(公告)号: CN109642890B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 池上将弘;绪方是嗣 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用户在特定的一或多个MS成像图像上指定例如假设包含大量想要鉴定的化合物的区域、该化合物与其它化合物重叠的区域等关注区域(ROI),指示ROI间的相加或相减。于是,对于每一个所指定的ROI,根据该区域中包含的测定点处的MS/MS谱数据计算平均MS/MS谱,进而算出将ROI之间的平均MS/MS谱进行相加或相减所得到的MS/MS谱。通过进行ROI之间的相加,能够提高源自目标化合物的峰的强度。另一方面,通过在ROI之间进行相减,能够去除与目标化合物重叠的源自其它化合物的峰。当将如此进行加减运算后的MS/MS谱供于库检索来鉴定目标化合物时,与以往相比谱的相似度的分数变高,能够提高鉴定精度。
搜索关键词: 成像 谱分析 数据处理 装置 方法
【主权项】:
1.一种成像质谱分析数据处理装置,用于处理通过对试样上的规定的测定对象区域内的多个测定点分别进行MSn分析所得到的MSn谱数据,其中,n为2以上的整数,所述成像质谱分析数据处理装置的特征在于,具备:a)图像制作部,其基于所述MSn谱数据,针对所述测定对象区域或该区域中的一部分区域制作表示特定质荷比下的信号强度分布的质谱分析成像图像;b)关注区域设定部,其在所述质谱分析成像图像上或与测定对象区域对应的光学图像上将多个小区域分别设定为关注区域;c)MSn谱获取部,其基于多个所述关注区域中包含的测定点处的MSn谱数据,获取在多个所述关注区域之间将多个所述关注区域各自的MSn谱进行相加或相减所得到的已运算MSn谱;以及d)化合物鉴定部,其利用所述已运算MSn谱来鉴定在多个所述关注区域中存在的化合物。
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