[发明专利]监视设备的功能状态的方法和装置以及存储介质有效
| 申请号： | 201680090251.0 | 申请日： | 2016-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN109844507B | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | T·施恩费尔德;M·巴切尔;T·京特;C·波利沃达;C·莱因哈特 | 申请（专利权）人： | 音量制图法公司;联邦物理技术研究院 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;H05G1/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 黄纶伟;李辉 |
| 地址： | 德国海*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及监视用于工件(104)的计算机断层扫描检查的设备(106)的功能状态的计算机实现的方法和装置以及存储介质，其中对工件(104)的计算机断层扫描检查包括对工件(104)执行一个或更多个计算机断层扫描测量。在此，测量分别产生至少一个测量变量的至少一个测量值。监视功能状态的方法在此首先包括从对一个或更多个工件(104)的至少两次测量中选择至少一个测量变量的测量值。随后，确定所述至少一个测量变量的所选择的测量值的至少一个分散度量，以及所述至少一个测量变量的测量值的至少一个基准分散度量。然后通过将所确定的至少一个分散度量与所述至少一个测量变量的至少一个基准分散度量进行比较来确定该设备(106)的功能状态。 | ||
| 搜索关键词： | 监视 设备 功能 状态 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种监视用于工件(104)的计算机断层扫描检查的设备(106)的功能状态的计算机实现的方法，其中，对工件(104)的计算机断层扫描检查包括对所述工件(104)执行一次或更多次计算机断层扫描测量，其中，这些测量各自产生至少一个测量变量的至少一个测量值，其中，监视所述功能状态的所述方法包括以下步骤：●从对一个或更多个工件(104)的至少两次测量中选择至少一个测量变量的测量值，●确定所述至少一个测量变量的所选择的测量值的至少一个分散度量，●确定所述至少一个测量变量的测量值的至少一个基准分散度量，以及●通过将所述至少一个测量变量的所确定的至少一个分散度量与所述至少一个基准分散度量进行比较来确定所述设备(106)的功能状态。
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